Keithley 6517A與6517B均為高精度靜電計(jì)/高阻計(jì)的代表產(chǎn)品，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、半導(dǎo)體測(cè)試、納米技術(shù)及絕緣材料研究等領(lǐng)域。二者均具備超高靈敏度與穩(wěn)定性，但在技術(shù)迭代中，6517B作為6517A的升級(jí)版本，在性能、功能與用戶(hù)體驗(yàn)方面實(shí)現(xiàn)了顯著提升。以下從多個(gè)維度對(duì)二者進(jìn)行系統(tǒng)對(duì)比。

一、性能升級(jí)：精度與測(cè)量能力增強(qiáng) 6517B在電流測(cè)量分辨率上達(dá)到10aA（10×10?1?A），較6517A提升了約一個(gè)數(shù)量級(jí)，使其在超低電流場(chǎng)景下具備更強(qiáng)的探測(cè)能力。電阻測(cè)量上限也從6517A的101?Ω提升至101?Ω，顯著拓展了高阻材料的測(cè)試范圍。此外，6517B具備<3fA的輸入偏置電流和最低電流量程下<20μV的負(fù)載電壓，確保了對(duì)微弱信號(hào)的精準(zhǔn)捕捉與低干擾測(cè)量。

二、數(shù)據(jù)處理與存儲(chǔ)能力顯著提升 6517B內(nèi)置電池備份內(nèi)存緩沖區(qū)可存儲(chǔ)高達(dá)50,000個(gè)讀數(shù)，遠(yuǎn)超6517A的存儲(chǔ)容量，支持更長(zhǎng)時(shí)間的連續(xù)監(jiān)測(cè)與數(shù)據(jù)記錄。其讀數(shù)速率也大幅提升：內(nèi)部緩沖器讀取速率可達(dá)425讀數(shù)/秒，通過(guò)IEEE-488總線向外部傳輸時(shí)可達(dá)400讀數(shù)/秒，極大提升了測(cè)試效率，尤其適用于高速數(shù)據(jù)采集場(chǎng)景。

三、硬件接口與安全性?xún)?yōu)化 為適應(yīng)現(xiàn)代連接標(biāo)準(zhǔn)與安全規(guī)范，6517B對(duì)背板接口進(jìn)行了多項(xiàng)調(diào)整：取消了6517A上的“Ext Trig In”與“MTR Comp Out”BNC接口，數(shù)字I/O與聯(lián)鎖（Interlock）接口改用更現(xiàn)代的連接形式，位置亦重新布局，提升了設(shè)備的兼容性與操作安全性。

四、功能擴(kuò)展與系統(tǒng)集成性增強(qiáng) 6517B支持選配插入式掃描卡（如6521/6522），可實(shí)現(xiàn)最多10通道的自動(dòng)掃描測(cè)量，便于多樣品批量測(cè)試。結(jié)合8009電阻率測(cè)試夾具與KickStart軟件，可構(gòu)建符合ASTM D257標(biāo)準(zhǔn)的完整高電阻率測(cè)量解決方案。其內(nèi)置±1000V電壓源、電壓反轉(zhuǎn)測(cè)量法及四種預(yù)設(shè)測(cè)試序列，進(jìn)一步簡(jiǎn)化了高阻、絕緣、擊穿等復(fù)雜測(cè)試流程。

五、軟件兼容性與操作體驗(yàn)優(yōu)化 6517B完全兼容6517A的SCPI命令集，原有軟件無(wú)需修改即可無(wú)縫遷移。同時(shí)，其圖形化界面更直觀，數(shù)據(jù)處理能力更強(qiáng)，支持GPIB與RS-232雙接口遠(yuǎn)程控制，提升了與自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的集成度。

綜上所述，Keithley 6517B在繼承6517A高精度基因的基礎(chǔ)上，通過(guò)提升分辨率、增強(qiáng)數(shù)據(jù)處理能力、優(yōu)化接口設(shè)計(jì)與擴(kuò)展系統(tǒng)功能，實(shí)現(xiàn)了從“高性能”到“高效率、高集成”的跨越，是現(xiàn)代高阻與弱電流測(cè)量更先進(jìn)、更全面的選擇。