在微波射頻研發(fā)、生產(chǎn)測(cè)試中，對(duì)測(cè)量?jī)x器的性能、效率與成本進(jìn)行統(tǒng)籌權(quán)衡，是一項(xiàng)關(guān)鍵挑戰(zhàn)。玖錦ENA1000A 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，在延續(xù)經(jīng)濟(jì)型定位的同時(shí)，完整繼承了高端矢網(wǎng)的核心性能與功能架構(gòu)，為各類射頻器件和系統(tǒng)提供高可靠性測(cè)試支持。

ENA1000A 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀

300 kHz~13.5 GHz/26.5 GHz

產(chǎn)品簡(jiǎn)述：

ENA1000A是一款經(jīng)濟(jì)型矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，該設(shè)備保留了高端矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的特征，包括性能指標(biāo)，通用的軟件界面及顯示效果等，提供單端口、增強(qiáng)型響應(yīng)、全雙端口、電子校準(zhǔn)等多種校準(zhǔn)方式內(nèi)設(shè)對(duì)數(shù)幅度、線性幅度、駐波、相位、群時(shí)延、Smith 圓圖、極坐標(biāo)等多種顯示格式，外配USB、LAN、GPIB、VGA等多種標(biāo)準(zhǔn)接口，能精確測(cè)量微波網(wǎng)絡(luò)的幅頻、相頻和群時(shí)延特性。該產(chǎn)品可廣泛應(yīng)用于各種材料測(cè)試、天線測(cè)試、汽車電子、微波射頻元器件等領(lǐng)域的科研、生產(chǎn)過程中必不可少的測(cè)試設(shè)備。

主要特點(diǎn)

頻率范圍：300 kHz~13.5 GHz/26.5 GHz

高動(dòng)態(tài)范圍優(yōu)于120 dB （典型值）

跡線噪聲優(yōu)于0.001 dB

校準(zhǔn)類型靈活可選，兼容多種校準(zhǔn)件

支持多窗口、多通道測(cè)量

可通過LAN、GPIB和USB接口控制儀器

遠(yuǎn)程控制指令兼容主流同類設(shè)備

單源激勵(lì)二端口和雙源激勵(lì)四端口配置可選

主要功能：

濾波器與耦合器測(cè)試
具備分段掃描和專用器件測(cè)試功能，用戶可獨(dú)立設(shè)置通帶、阻帶掃描參數(shù)及精度條件，快速提取帶寬、插入損耗、帶內(nèi)紋波、Q值等關(guān)鍵指標(biāo)，支持研發(fā)調(diào)試與產(chǎn)線高速測(cè)試。

｜時(shí)域分析與TDR測(cè)量｜
內(nèi)置時(shí)域功能，支持脈沖響應(yīng)和TDR/TDT測(cè)量，可精準(zhǔn)分析傳輸線阻抗變化、信號(hào)反射及延時(shí)特性，適用于高速數(shù)字通道、射頻互聯(lián)組件等的信號(hào)完整性驗(yàn)證。

多端口天線與陣列測(cè)試
憑借低軌跡噪聲、可編程中頻帶寬及多通道幅相同步接收能力，ENA1000A 可配置最多4個(gè)源輸出和8通道接收機(jī)，支持MIMO天線、有源陣列方向圖測(cè)試、多端口S參數(shù)同步采集，滿足復(fù)雜天線系統(tǒng)的表征需求。

頻偏測(cè)量模式
支持源和接收機(jī)獨(dú)立頻率設(shè)置，實(shí)現(xiàn)頻偏條件下的網(wǎng)絡(luò)響應(yīng)測(cè)量，可應(yīng)用于變頻組件、鎖相環(huán)等器件的頻偏特性分析。

混頻器與變頻器件測(cè)試
提供線性掃描、功率掃描及多段掃描模式，支持混頻器變頻損耗、隔離度、壓縮點(diǎn)等指標(biāo)的自動(dòng)化標(biāo)量測(cè)試，通過頻率-功率關(guān)系配置，顯著簡(jiǎn)化多頻點(diǎn)交互器件的測(cè)試流程。

高效集成與自動(dòng)化適配能力
ENA1000A 支持基于SCPI指令集的遠(yuǎn)程控制，可通過LAN、GPIB或USB接口快速部署至ATE系統(tǒng)。其具備的快速掃描、多通道幅相校準(zhǔn)及軌跡處理能力，尤其適用于濾波器、天線、TR組件等產(chǎn)品的批量自動(dòng)化測(cè)試，有效提升產(chǎn)線吞吐量和測(cè)試一致性。

結(jié)語(yǔ)：

玖錦ENA1000A 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀以專業(yè)級(jí)的性能、靈活的配置和高效的自動(dòng)化能力，覆蓋從器件研發(fā)到系統(tǒng)生產(chǎn)的全鏈路測(cè)試場(chǎng)景，成為射頻領(lǐng)域高性價(jià)比測(cè)試的新基準(zhǔn)。如需獲取詳細(xì)技術(shù)資料或應(yīng)用案例，歡迎聯(lián)系安泰測(cè)試。