北京
PART1
研討會基本信息
NI測試測量技術研討會北京站即將啟幕！ 本次會議以“AI+測試”為核心，深入探討人工智能在測試測量領域的落地實踐。
現(xiàn)場將集中展示多款新產品，包括AI能力進一步增強的新版本 LabVIEW、新一代 PXI 機箱、控制器及儀器板卡，以及全新 USRP X420等。
會議還將覆蓋商業(yè)衛(wèi)星互聯(lián)網、半導體測試、院校前沿研究、人形機器人等熱點領域，攜手探索智能測試新機遇，共贏未來。
先報名，預約席位
活動時間
2026年4月16日（星期四）
13:30-17:00（12:00開始簽到）
活動地點
北京新云南皇冠假日酒店
（地址：北京市朝陽區(qū)東北三環(huán)西壩河太陽宮橋東角云南大廈）
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碼上報名
NI測試測量技術研討會北京站
PART2
為什么參會？
聚焦“測試 + AI”前沿趨勢，探討 AI 如何真正賦能測試開發(fā)流程
中國特別版PXI產品發(fā)布，性能不負眾望，價格超乎想象
射頻及航空航天論壇，匯集大帶寬流盤回放、信道仿真測試、射頻參數(shù)測試等功能
前沿行業(yè)應用，包含AI通信系統(tǒng)，相控陣，6G研究、人形機器人、高速ADC等
展示環(huán)節(jié)，超過15個實機系統(tǒng)，現(xiàn)場體驗，與資深工程師深入交流
PART3
誰適合參加？
測試測量工程師、研發(fā)工程師
工程團隊負責人，技術總監(jiān)
院校及研究所研究人員
LabVIEW愛好者，開發(fā)者
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