糾纏雙光梳光譜學(xué)（Entangled Dual-Comb Spectroscopy, EDCS）代表了兩個強大領(lǐng)域——光學(xué)頻率梳和量子糾纏——的突破性融合。這項新技術(shù)通過利用量子相關(guān)性來顯著提高測量精度和速度，解決了經(jīng)典光譜學(xué)中的一個根本限制，即散粒噪聲極限。雙光梳光譜學(xué)（DCS）本身已是一種用途廣泛的工具，具有高分辨率、寬光譜覆蓋和快速采集的優(yōu)點。然而，量子糾纏的引入將其從最先進的經(jīng)典方法提升為尖端的量子計量技術(shù)，從而推動了化學(xué)和生物傳感、精密計時和基礎(chǔ)物理學(xué)領(lǐng)域的邊界。

基礎(chǔ)：雙光梳光譜學(xué)及其限制

要理解EDCS的重要性，首先必須了解其經(jīng)典前身——雙光梳光譜學(xué) (DCS) 的基礎(chǔ)和局限性。頻率梳本質(zhì)上是一種光源，其光譜由數(shù)千條離散、等間隔的頻率線組成。這些譜線極其穩(wěn)定和精確，使得頻率梳就像一把“光學(xué)尺”，能夠?qū)崿F(xiàn)高精度的頻率測量。

在DCS中，兩條具有微小重復(fù)頻率差異 (Δfrep) 的頻率梳與樣本發(fā)生干涉。這種干涉將高頻光學(xué)頻譜（約101?Hz）降頻到低得多的射頻域（約10?Hz），這一過程被稱為異步光學(xué)采樣。這種降頻轉(zhuǎn)換使得能夠快速、同時地采集整個頻譜，具有高分辨率和可溯源到原子鐘的精確度。DCS因其速度和精度而在大氣監(jiān)測、痕量氣體檢測和材料分析等應(yīng)用中備受重視。

然而，經(jīng)典DCS的性能最終受到散粒噪聲的限制。散粒噪聲源于光的固有量子特性，特別是離散光子隨機到達的時間，這轉(zhuǎn)化為檢測到的光功率的隨機波動。對于經(jīng)過優(yōu)化的經(jīng)典測量，信噪比 (SNR) 會受到標準量子極限 ({SQL)（通常等同于散粒噪聲極限）的限制。超越這個極限需要增加激光功率或延長積分時間，這兩者對于許多實際應(yīng)用來說都是不切實際或不理想的，特別是那些對加熱敏感或需要在功率受限下進行快速實時測量的應(yīng)用。

量子飛躍：引入糾纏

糾纏雙光梳光譜學(xué)通過引入量子資源，特別是壓縮光和糾纏頻率梳模式，克服了散粒噪聲的限制。壓縮是一種量子現(xiàn)象，其中光場的一個可觀測量的噪聲（例如強度）被降低到 SQL 以下，代價是其互補可觀測量的噪聲（例如相位）增加。

EDCS的關(guān)鍵創(chuàng)新在于創(chuàng)建了一個具有圍繞每條梳線的定制邊帶糾纏的量子頻率梳?；镜腅DCS協(xié)議涉及三個主要步驟：

1. 量子梳生成：使用專門的非線性光學(xué)過程（例如四波混頻或參量下轉(zhuǎn)換）來生成光場，其中成對的頻率模式在量子力學(xué)上是糾纏的。這個過程有效地“壓縮”了噪聲，將特定頻率對的強度波動降低到散粒噪聲水平以下。
2. 與樣本的相互作用：這種量子相關(guān)光——通常是一把糾纏梳——與樣本（例如氣體或液體）相互作用，捕獲其吸收或色散特征。
3. 量子增強探測：測量過程采用DCS的標準外差探測，但探測電路被設(shè)計為利用糾纏頻率模式之間的量子相關(guān)性。由于噪聲在成對模式之間是相關(guān)的，測量它們強度波動的差值可以使得相關(guān)的噪聲（包括散粒噪聲）被抵消或抑制。

EDCS的性能和優(yōu)勢

EDCS所展示的實際結(jié)果令人信服，顯示出相對于經(jīng)典 $\text{DCS}$ 的顯著性能提升：

1. 信噪比 (SNR) 增強

最直接的優(yōu)勢是信噪比超越標準量子極限的提高。實驗已證明SNR有2dB到2.6 dB的增強。這種提升至關(guān)重要，因為SNR每提高1dB，就直接轉(zhuǎn)化為確定樣本濃度或光譜特征的更高精度。

2. 量子加速

增強的SNR可直接轉(zhuǎn)化為積分時間的減少，從而實現(xiàn)量子加速。例如，2.6 dB的SNR增強意味著達到相同精度所需的測量時間快了1.7到2.6倍。這一特性對于實時觀察動態(tài)過程具有變革性意義，例如化學(xué)反應(yīng)、快速生物過程或大氣湍流。

3. 低功率操作

EDCS在低功率范圍（微瓦到毫瓦功率水平）展現(xiàn)出最顯著的優(yōu)勢。在這個范圍內(nèi)，系統(tǒng)噪聲基底主要由散粒噪聲主導(dǎo)，使其成為量子噪聲抑制的主要目標。這種低功率操作對于容易發(fā)生光損傷或發(fā)熱的敏感生物樣本，或在功率輸送受限的情況下至關(guān)重要。

廣泛的應(yīng)用前景和未來展望

糾纏雙光梳光譜學(xué)不僅僅是實驗室中的一個奇特現(xiàn)象；它代表了精密計量學(xué)的一個新范例，具有廣泛的潛在應(yīng)用：

• 動態(tài)化學(xué)傳感：EDCS的速度和精度使其非常適合監(jiān)測快速變化的化學(xué)環(huán)境，例如燃燒過程、反應(yīng)動力學(xué)和復(fù)雜的化學(xué)合成。
• 生物成像和光譜學(xué)： 低功率要求最大限度地減少了光損傷，使得能夠?qū)γ舾猩锓肿?、細胞培養(yǎng)物甚至體內(nèi)傳感進行高精度、模式分辨的光譜分析，特別是在分子指紋識別的關(guān)鍵區(qū)域（例如中紅外）。
• 精密計量學(xué)和計時： 頻率梳的頻率準確性與量子增強噪聲抑制的結(jié)合，可以帶來更穩(wěn)定和精確的光鐘，以及改進的時間頻率傳遞標準。
• 痕量氣體和環(huán)境監(jiān)測：EDCS可以實現(xiàn)對大氣中痕量氣體和污染物的更快、更靈敏的檢測，有助于氣候科學(xué)和環(huán)境安全。

展望未來，集成量子光源和片上非線性光學(xué)（特別是基于微諧振器的頻率梳）的發(fā)展將是實現(xiàn)緊湊、堅固和可擴展的EDCS系統(tǒng)的關(guān)鍵。當前的實驗演示正在為將量子光學(xué)常規(guī)集成到先進光譜儀器中的未來奠定基礎(chǔ)，使EDCS成為下一代精密測量技術(shù)的基石。

總而言之，糾纏雙光梳光譜學(xué)是量子計量學(xué)的一個關(guān)鍵發(fā)展。通過利用量子糾纏的微妙而強大的相關(guān)性，它成功突破了經(jīng)典的散粒噪聲極限，為寬帶光譜學(xué)帶來了前所未有的速度和靈敏度的提升。這種量子飛躍有望開啟科學(xué)發(fā)現(xiàn)和技術(shù)應(yīng)用的新領(lǐng)域。