最近我們在接待一位來自射頻器件行業(yè)的客戶時了解到，他們需要對兩塊射頻功率管內(nèi)相同位置的引線鍵合點分別進行推拉力的對比測試，以評估兩塊產(chǎn)品在相同工藝條件下的品質(zhì)一致性。針對這個需求，本文科準測控小編就和大家分享一下，如何使用推拉力測試機來進行射頻功率管內(nèi)鍵合引線推力和拉力對比測試，同時詳細講解測試參數(shù)設(shè)置、操作流程和數(shù)據(jù)分析方法，為有同樣需求的讀者提供參考。

GaN微波射頻功率放大器件/芯片實物樣貌

（圖片源自公眾號“射頻百花潭”）

一、測試原理

推力測試：基于靜態(tài)剪切力學原理，將推刀以設(shè)定剪切高度對準待測點（焊球或金球）側(cè)面，以恒定速度水平推進，直至鍵合點從焊盤上脫落，系統(tǒng)記錄最大推力值和力-時間曲線。

拉力測試：基于靜態(tài)拉伸力學原理，將鉤針置于金線下方，以恒定速度向上拉起，直至金線斷裂或鍵合點失效，系統(tǒng)記錄最大拉力值和力-時間曲線。

二、測試標準

• MIL-STD-883 微電子器件測試方法標準

• GJB 548B-2005 微電子器件試驗方法和程序

• JESD22-B117A 焊球剪切測試標準

• ASTM F1269 金線鍵合強度測試方法

三、測試設(shè)備

Beta S100推拉力測試機

傳感器配置：

推力測試：BS250傳感器（量程250g）

拉力測試：WP100傳感器（量程100g）

四、測試流程

步驟一：設(shè)備與試樣準備

檢查推拉力測試機水平狀態(tài)及傳感器安裝情況

確認傳感器在校準有效期內(nèi)

在顯微鏡下觀察兩塊射頻功率管試樣的待測點形貌，確認無可見缺陷

步驟二：參數(shù)設(shè)置

推力測試參數(shù)：

測試類型：推力測試（剪切測試）

傳感器：BS250

量程：250g

測試速度：500μm/s

剪切高度：根據(jù)焊球高度設(shè)定

拉力測試參數(shù)：

測試類型：拉力測試

傳感器：WP100

測試速度：500μm/s

步驟三：試樣一測試

將試樣一固定于夾具中，對兩個推力測試點各進行3次推力測試，對兩個拉力測試點各進行3次拉力測試，每次測試系統(tǒng)自動記錄最大力值和力-時間曲線

步驟四：試樣二測試

將試樣二固定于夾具中，對相同位置的兩個測試點各進行3次推力測試，對相同位置的兩個點各進行3次拉力測試，每次測試系統(tǒng)自動記錄最大力值和力-時間曲線

步驟五：數(shù)據(jù)匯總與分析

整合推力數(shù)據(jù)、拉力數(shù)據(jù)、力-時間曲線圖、測試影像，生成完整的對比測試報告。

推力對比測試

拉力對比測試

以上就是科準測控小編關(guān)于射頻功率管推拉力對比測試的相關(guān)介紹了，希望對您有幫助。如您還有射頻功率管元器件推拉力測試、鍵合強度評估或推拉力測試機應用等方面的疑問與需求，歡迎隨時通過私信或留言與科準測控聯(lián)系。我們的技術(shù)團隊將為您提供專業(yè)的測試建議與定制化服務方案。